„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
Ugrás a navigációhoz
Ugrás a kereséshez
22. sor: | 22. sor: | ||
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. | A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. | ||
− | 2014 tavaszán ez már biztosan nem volt aktuális, az első (elvileg könnyebbik) Zh-n ~70% bukott. Ha alapból nem érdekel a téma inkább ne vedd fel, mert nem | + | 2014 tavaszán ez már biztosan nem volt aktuális, az első (elvileg könnyebbik) Zh-n ~70% bukott. Ha alapból nem érdekel a téma inkább ne vedd fel, mert nem úgy kérdezik már vissza az anyagot, ahogy arra számítana az ember. |
==Segédanyagok== | ==Segédanyagok== |
A lap 2014. május 7., 09:58-kori változata
Tartalomjegyzék
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
2014 tavaszán ez már biztosan nem volt aktuális, az első (elvileg könnyebbik) Zh-n ~70% bukott. Ha alapból nem érdekel a téma inkább ne vedd fel, mert nem úgy kérdezik már vissza az anyagot, ahogy arra számítana az ember.
Segédanyagok
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget.
ZH
2012. 1. zh
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2012. 2. zh
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
- C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség
2013. 2. zh
1. félév (tavasz) | |
---|---|
2. félév (ősz) | |
Egyéb | |
Főspecializációk |