Minőségbiztosítás a mikroelektronikában

A VIK Wikiből
A lap korábbi változatát látod, amilyen Elmisto (vitalap | szerkesztései) 2013. május 20., 10:27-kor történt szerkesztése után volt. (új zh)
Ugrás a navigációhoz Ugrás a kereséshez

Vélemények

A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.

Segédanyagok

  • Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:Tételek_2010

ZH

2012

1. ZH

  • TQM
  • SPC
  • két darab szórásos, konfidenciás feladat
  • AOI

2. ZH

  • Si egykristály hibáinak vizsgálata
  • négytűs mérés
  • IC hibamérés
  • mit lehet mérni C-V módszerrel
  • gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás

C-V ; 4tűs vizsgálat ; számolós példa: gépképesség

-- DormanP - 2009.09.16.

-- GAbika

2013

2. ZH

2013.05.13.

A lap eredeti címe: „https://wiki.sch.bme.hu/index.php?title=Minőségbiztosítás_a_mikroelektronikában&oldid=165882”