Minőségbiztosítás a mikroelektronikában

Ez az oldal a korábbi SCH wiki-ről lett áthozva. Az eredeti változata itt érhető el.

Ha úgy érzed, hogy bármilyen formázási vagy tartalmi probléma van vele, akkor kérlek javíts rajta egy rövid szerkesztéssel.

Ha nem tudod, hogyan indulj el, olvasd el a migrálási útmutatót

Vélemények

A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.

Segédanyagok

• Tárgyi adatlap, és előadásanyagok, jelszó: minoseg
• Mizsei anyagai
• Poppe anyagai

• Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:Tételek_2010

ZH 2012

1. ZH

• TQM
• SPC
• két darab szórásos, konfidenciás feladat
• AOI

---

2. ZH

• Si egykristály hibáinak vizsgálata
• négytűs mérés
• IC hibamérés
• mit lehet mérni C-V módszerrel
• gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás

---

-- DormanP - 2009.09.16.

-- GAbika

2012-es kérdések:

 C-V ; 4tűs vizsgálat ;  számolós példa: gépképesség