„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
Ugrás a navigációhoz
Ugrás a kereséshez
a |
a (kategória cserélve) |
||
| 45. sor: | 45. sor: | ||
[[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]] | [[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]] | ||
| − | [[Category: | + | [[Category:VillanyMsc]] |
A lap 2014. február 2., 19:14-kori változata
Tartalomjegyzék
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
Segédanyagok
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget.
ZH
2012. 1. zh
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2012. 2. zh
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
- C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség
