„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
Ugrás a navigációhoz
Ugrás a kereséshez
a (→Segédanyagok) |
a |
||
| 1. sor: | 1. sor: | ||
{{Tantárgy | {{Tantárgy | ||
| név = Minőségbiztosítás<br>a mikroelektronikában | | név = Minőségbiztosítás<br>a mikroelektronikában | ||
| − | | tárgykód = | + | | tárgykód = VIETM109 |
| szak = villany MSc | | szak = villany MSc | ||
| kredit = 4 | | kredit = 4 | ||
| 40. sor: | 40. sor: | ||
* mit lehet mérni C-V módszerrel | * mit lehet mérni C-V módszerrel | ||
* gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás | * gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás | ||
| − | + | * C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség | |
| − | C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség | ||
===2013. 2. zh=== | ===2013. 2. zh=== | ||
A lap 2013. augusztus 8., 17:23-kori változata
Tartalomjegyzék
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
Segédanyagok
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget.
ZH
2012. 1. zh
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2012. 2. zh
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
- C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség
