„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
Ugrás a navigációhoz
Ugrás a kereséshez
a (→Segédanyagok) |
|||
| 23. sor: | 23. sor: | ||
==Segédanyagok== | ==Segédanyagok== | ||
| − | |||
* [http://www.eet.bme.hu/~mizsei/Minell/ Mizsei anyagai] | * [http://www.eet.bme.hu/~mizsei/Minell/ Mizsei anyagai] | ||
* [http://www.eet.bme.hu/~poppe/minel/ Poppe anyagai] | * [http://www.eet.bme.hu/~poppe/minel/ Poppe anyagai] | ||
| − | + | * [[Média:Mbmikro_kidolgozas_2010.pdf | Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról.]] Tartalomért nem vállalok felelősséget. | |
| − | [[Média:Mbmikro_kidolgozas_2010.pdf | Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról.]] Tartalomért nem vállalok felelősséget. | ||
==ZH== | ==ZH== | ||
A lap 2013. augusztus 8., 16:15-kori változata
Tartalomjegyzék
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
Segédanyagok
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget.
ZH
2012. 1. zh
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2012. 2. zh
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség
