„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
Ugrás a navigációhoz
Ugrás a kereséshez
(Poppe és Mizsei honlapja hozzáadva) |
(új zh) |
||
| 1. sor: | 1. sor: | ||
| − | |||
| − | |||
| − | |||
==Vélemények== | ==Vélemények== | ||
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. | A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. | ||
| 13. sor: | 10. sor: | ||
* Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010] | * Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010] | ||
| − | ==ZH 2012== | + | == ZH == |
| − | ===1. ZH=== | + | === 2012 === |
| + | ---- | ||
| + | ==== 1. ZH ==== | ||
* TQM | * TQM | ||
* SPC | * SPC | ||
| 20. sor: | 19. sor: | ||
* AOI | * AOI | ||
| − | + | ==== 2. ZH ==== | |
| − | |||
| − | ===2. ZH=== | ||
* Si egykristály hibáinak vizsgálata | * Si egykristály hibáinak vizsgálata | ||
* négytűs mérés | * négytűs mérés | ||
| 29. sor: | 26. sor: | ||
* gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás | * gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás | ||
| − | - | + | C-V ; 4tűs vizsgálat ; számolós példa: gépképesség |
| + | |||
-- [[DormanP]] - 2009.09.16. | -- [[DormanP]] - 2009.09.16. | ||
-- [[MolnarGabika|GAbika]] | -- [[MolnarGabika|GAbika]] | ||
| − | + | === 2013 === | |
| − | + | ---- | |
| − | + | ==== 2. ZH ==== | |
| − | + | [[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]] | |
[[Category:Villanyszak]] | [[Category:Villanyszak]] | ||
A lap 2013. május 20., 10:27-kori változata
Tartalomjegyzék
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
Segédanyagok
- Tárgyi adatlap, és előadásanyagok, jelszó: minoseg
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:Tételek_2010
ZH
2012
1. ZH
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2. ZH
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
C-V ; 4tűs vizsgálat ; számolós példa: gépképesség
-- DormanP - 2009.09.16.
-- GAbika
